1.總頻差:在規(guī)定的時(shí)間內(nèi),由于規(guī)定的工作和非工作參數(shù)全部組合而引起的晶體振蕩
器頻率與給定標(biāo)稱頻率的最大頻差。
說明:總頻差包括頻率溫度穩(wěn)定度、頻率溫度準(zhǔn)確度、頻率老化率、頻率電源穩(wěn) 電壓
定度和頻率負(fù)載穩(wěn)定度共同造成的最大頻差。一般只在對(duì)短期頻率穩(wěn)定度關(guān)心,而對(duì)其他頻
率穩(wěn)定度指標(biāo)不嚴(yán)格要求的場(chǎng)合采用。例如:精密制導(dǎo)雷達(dá)。
2. 頻率溫度穩(wěn)定度:在標(biāo)稱電源和負(fù)載下,工作在規(guī)定溫度范圍內(nèi)的不帶隱含基準(zhǔn)溫度
或帶隱含基準(zhǔn)溫度的最大允許頻偏。
fT=±(fmax-fmin)/(fmax+fmin)
fTref =±MAX[|(fmax-fref)/fref|,|(fmin-fref)/fref|] fT:頻率溫度穩(wěn)定度
(不帶隱含基準(zhǔn)溫度)
fTref:頻率溫度穩(wěn)定度(帶隱含基準(zhǔn)溫度)
fmax :規(guī)定溫度范圍內(nèi)測(cè)得的最高頻率
fmin:規(guī)定溫度范圍內(nèi)測(cè)得的最低頻率
fref:規(guī)定基準(zhǔn)溫度測(cè)得的頻率
說明:采用fTref指標(biāo)的晶體振蕩器其生產(chǎn)難度要高于采用fT指標(biāo)的晶體振蕩器,故
fTref指標(biāo)的晶體振蕩器售價(jià)較高。
3. 頻率穩(wěn)定預(yù)熱時(shí)間:以晶體振蕩器穩(wěn)定輸出頻率為基準(zhǔn),從加電到輸出頻率小于規(guī)定
頻率允差所需要的時(shí)間。
說明:在多數(shù)應(yīng)用中,晶體振蕩器是長(zhǎng)期加電的,然而在某些應(yīng)用中晶體振蕩器需要
頻繁的開機(jī)和關(guān)機(jī),這時(shí)頻率穩(wěn)定預(yù)熱時(shí)間指標(biāo)需要被考慮到(尤其是對(duì)于在苛刻環(huán)境中使
用的軍用通訊電臺(tái),當(dāng)要求頻率溫度穩(wěn)定度≤±0.3ppm(-45℃~85℃),采用OCXO作為本
振,頻率穩(wěn)定預(yù)熱時(shí)間將不少于5分鐘,而采用DTCXO只需要十幾秒鐘)。
4. 頻率老化率:在恒定的環(huán)境條件下測(cè)量振蕩器頻率時(shí),振蕩器頻率和時(shí)間之間的關(guān)
系。這種長(zhǎng)期頻率漂移是由晶體元件和振蕩器電路元件的緩慢變化造成的,可用規(guī)定時(shí)限后
的最大變化率(如±10ppb/天,加電72小時(shí)后),或規(guī)定的時(shí)限內(nèi)最大的總頻率變化(如:
±1ppm/(第一年)和±5ppm/(十年))來表示。
說明:TCXO的頻率老化率為:±0.2ppm~±2ppm(第一年)和±1ppm~±5ppm(十
年)(除特殊情況,TCXO很少采用每天頻率老化率的指標(biāo),因?yàn)榧词乖趯?shí)驗(yàn)室的條件下,溫
度變化引起的頻率變化也將大大超過溫度補(bǔ)償晶體振蕩器每天的頻率老化,因此這個(gè)指標(biāo)失
去了實(shí)際的意義)。OCXO的頻率老化率為:±0.5ppb~±10ppb/天(加電72小時(shí)后),±
30ppb~±2ppm(第一年),±0.3ppm~±3ppm(十年)。
5.頻率壓控范圍:將頻率控制電壓從基準(zhǔn)電壓調(diào)到規(guī)定的終點(diǎn)電壓,晶體振蕩器頻率的
最小峰值改變量。
說明:基準(zhǔn)電壓為+2.5V,規(guī)定終點(diǎn)電壓為+0.5V和+4.5V,壓控晶體振蕩器在+
0.5V頻率控制電壓時(shí)頻率改變量為-110ppm,在+4.5V頻率控制電壓時(shí)頻率改變量為+
130ppm,則VCXO電壓控制頻率壓控范圍表示為:≥±100ppm(2.5V±2V)。
6.壓控頻率響應(yīng)范圍:當(dāng)調(diào)制頻率變化時(shí),峰值頻偏與調(diào)制頻率之間的關(guān)系。通常用規(guī)
定的調(diào)制頻率比規(guī)定的調(diào)制基準(zhǔn)頻率低若干dB表示。
說明:VCXO頻率壓控范圍頻率響應(yīng)為0~10kHz。
7.頻率壓控線性:與理想(直線)函數(shù)相比的輸出頻率-輸入控制電壓傳輸特性的一種量
度,它以百分?jǐn)?shù)表示整個(gè)范圍頻偏的可容許非線性度。
說明:典型的VCXO頻率壓控線性為:≤±10%,≤±20%。簡(jiǎn)單的VCXO頻率壓控線性計(jì)
算方法為(當(dāng)頻率壓控極性為正極性時(shí)):
頻率壓控線性=±((fmax-fmin)/ f0)×100%
fmax:VCXO在最大壓控電壓時(shí)的輸出頻率
fmin:VCXO在最小壓控電壓時(shí)的輸出頻率
f0:壓控中心電壓頻率
8.單邊帶相位噪聲£(f):偏離邊帶的功率密度與載波f處,一個(gè)相位調(diào)制載波功率之
比。
主要參數(shù)
參數(shù) |
基本描述 |
頻率準(zhǔn)確度 |
在標(biāo)稱電源電壓、標(biāo)稱負(fù)載阻抗、基準(zhǔn)溫度(25℃)以及其他條件保持不變,晶體振蕩器的頻率相對(duì)與其規(guī)定標(biāo)稱值的最大允許偏差,即(fmax-fmin)/f0; |
溫度穩(wěn)定度 |
其他條件保持不變,在規(guī)定溫度范圍內(nèi)晶體振蕩器輸出頻率的最大變化量相對(duì)于溫度范圍內(nèi)輸出頻率極值之和的允許頻偏值,即(fmax-fmin)/(fmax+fmin); |
頻率調(diào)節(jié)范圍 |
通過調(diào)節(jié)晶振的某可變?cè)淖冚敵鲱l率的范圍。 |
調(diào)頻(壓控)特性 |
包括調(diào)頻頻偏、調(diào)頻靈敏度、調(diào)頻線性度。 |
負(fù)載特性 |
其他條件保持不變,負(fù)載在規(guī)定變化范圍內(nèi)晶體振蕩器輸出頻率相對(duì)于標(biāo)稱負(fù)載下的輸出頻率的最大允許頻偏。 |
電壓特性 |
其他條件保持不變,電源電壓在規(guī)定變化范圍內(nèi)晶體振蕩器輸出頻率相對(duì)于標(biāo)稱電源電壓下的輸出頻率的最大允許頻偏。 |
雜波 |
輸出信號(hào)中與主頻無(wú)諧波(副諧波除外)關(guān)系的離散頻譜分量與主頻的功率比,用dBc表示。 |
諧波 |
諧波分量功率Pi與載波功率P0之比,用dBc表示。 |
頻率老化 |
在規(guī)定的環(huán)境條件下,由于元件(主要是石英諧振器)老化而引起的輸出頻率隨時(shí)間的系統(tǒng)漂移過程。通常用某一時(shí)間間隔內(nèi)的頻差來量度。對(duì)于高穩(wěn)定晶振,由于輸出頻率在較長(zhǎng)的工作時(shí)間內(nèi)呈近似線性的單方向漂移,往往用老化率(單位時(shí)間內(nèi)的相對(duì)頻率變化)來量度。 |
日波動(dòng) |
指振蕩器經(jīng)過規(guī)定的預(yù)熱時(shí)間后,每隔一小時(shí)測(cè)量一次,連續(xù)測(cè)量24小時(shí),將測(cè)試數(shù)據(jù)按S=(fmax-fmin)/f0式計(jì)算,得到日波動(dòng)。 |
開機(jī)特性 |
在規(guī)定的預(yù)熱時(shí)間內(nèi),振蕩器頻率值的最大變化,用V=(fmax-fmin)/f0表示。 |
相位噪聲 |
短期穩(wěn)定度的頻域量度。用單邊帶噪聲與載波噪聲之比£(f)表示,£(f)與噪聲起伏的頻譜密度Sφ(f)和頻率起伏的頻譜密度Sy(f)直接相關(guān),由下式表示: |